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产品标签 | 全自动微区膜厚测试仪 X荧光膜厚测试仪 电镀表面分析仪厂家 镀层膜厚仪 上照式膜厚测试仪
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产品说明
EDX 2000A全自动微区膜厚测试仪是天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光膜厚测量技术,***研发的一款上照式膜厚测试仪。相比于传统的镀层测厚设备,不仅在常规的传统电镀上表现更加***,更能很好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。仪器外观简洁大方,通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动 , 双激光定位和保护系统 , 实现对平面 、 凹凸 、 拐角 、 弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦***分析。
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